Confovis GmbH

Defekterkennung und Metrologie in einem System

Mit den Messsystem Waferinspect AOI erweitert Confovis seine Produktreihe um ein AOI Tool, das Defect Inspection, Defect Review sowie 2D- und 3D-Messungen in einem einzigen System zusammenbringt.

Optische Messverfahren für eine produktionsnahe 3D Oberflächenvermessung

Stete Kontrolle für gleichbleibende Qualität

3D-Oberflächenmesstechnik für die MEMS- und Wafer-Produktion

3D-Oberflächenanalyse von Zerspanungswerkzeugen

Form- und Rauheitsmessungen mit nur einem System

Die Suche nach Gleichförmigkeit