19. Sonderschau Berührungslose Messtechnik zur Control 2025
Exponat-Vorschläge können bis Ende Oktober 2024 eingereicht werden
Im Rahmen der Control 2025 in Stuttgart veranstaltet der Fraunhofer-Geschäftsbereich Vision in Zusammenarbeit mit dem Messeveranstalter zum 19. Mal die Sonderschau Berührungslose Messtechnik. Die Sonderschau zeigt auf rund 300 qm einen Querschnitt innovativer Technologien, Applikationen und Systemkomponenten aus dem Bereich der berührungslosen Mess- und Prüftechnik und bietet Anwendenden eine erste Orientierungshilfe bei der Auswahl der zur Bewältigung der eigenen Prüfaufgaben geeigneten Technologie. Firmen, Forschungseinrichtungen und Hochschulen, die Interesse an einer Teilnahme haben, werden gebeten, bis zum 30. Oktober 2024 einen Exponat-Vorschlag beim Fraunhofer-Geschäftsbereich Vision einzureichen (Titel und kurze Beschreibung).
Die Sonderschau Berührungslose Messtechnik hat sich in den letzten Jahren als Kommunikationsplattform und Marktplatz der Innovationen bei Ausstellern und Messebesuchern gleichermaßen etabliert und ist fester Bestandteil der Messe Control. Die Performance und Flexibilität moderner Systeme wachsen ständig. Immer größere Skalenbereiche werden abgedeckt und neue Anwendungsfelder erschlossen, sodass es für Anwendende nicht einfach ist, sich am Markt zu orientieren. Die Sonderschau bietet daher eine Orientierungshilfe bei der Auswahl der zur Bewältigung der eigenen Prüfaufgaben geeigneten Technologie.
Wie jedes Jahr sollen wieder neueste Entwicklungen und innovative Mess- und Prüfsysteme präsentiert werden, die von ihrem Prinzip her berührungslos arbeiten. Dabei soll der Fokus einerseits auf der Prüfung oder Messung äußerlicher bzw. sichtbarer Merkmale von Bauteilen oder Materialien liegen. Relevante Technologien hierfür sind beispielsweise Lichtschnitt, Streifenprojektion, Weißlichtinterferometrie, Holographie, Time of Flight oder konfokale Messverfahren. Daneben wird auch den im nicht sichtbaren Teil des Wellenlängenspektrums arbeitenden Mess- und Prüftechniken für das Materialinnere wie Thermographie, Röntgen, Ultraschall oder Terahertz, oder auch spektroskopischen Verfahren, wie dem Hyperspectral Imaging, eine Plattform geboten.
