Webinar zur Effizienzsteigerung in der Waferproduktion durch maschinelles Sehen
Das Webinar wird am 5. Juni stattfinden und zu zwei verschiedenen Zeiten angeboten, sodass sowohl Interessierte aus den Amerikas als auch Europa und Asien teilnehmen können.
Das von MVTec organisierte und in englisch gehaltene Webinar beleuchtet, wie maschinelles Sehen die Inspektion von Wafern verbessert und die Qualität sowie den Durchsatz in der Halbleiterfertigung steigert. Herausforderungen bei der Waferinspektion, wie reflektierende Oberflächen und Mikrodefekte, werden durch automatisierte, robuste optische Inspektionsprozesse gemeistert.
Coco Rogers, Applikationsingenieurin im Kundenservice mit umfangreicher Expertise in der Defekterkennung und tiefem Wissen über die Halbleiterindustrie, wird eine Live-Demonstration der optischen Inspektionsprozesse mit fortschrittlichen Technologien geben. MVTec Halcons Technologien, wie formbasiertes Matching und Variationsmodelle, stehen im Fokus, um den Ertrag zu maximieren.
Markus Setzer, seit sechs Jahren Marketing-Spezialist bei MVTec, moderiert das Webinar. Es richtet sich an Ingenieure, technische Leiter, Projektmanager und Entscheidungsträger, die Automatisierungslösungen erkunden oder ihr Wissen vertiefen möchten, und bietet praktische Einblicke und Lösungen statt theoretischer Präsentationen.
Angeboten wird das Webinar in englischer Sprache zu zwei verschiedenen Zeiten:
Datum: Juni 5, 2025
Uhrzeit für Europa und Asien: 09:00 AM - 09:30 AM CEST
Uhrzeit für USA und Kanada: 11:00 AM - 11:30 AM PMT
