Schnelle und hochgenaue Messungen an unterschiedlichen Oberflächen

Der Werth Chromatic Focus Point Sensor ist ein hochgenauer optischer Abstandssensor und weitgehend unabhängig von der Oberflächenbeschaffenheit. Ein typischer Einsatzbereich liegt in der Bestimmung der Ebenheit durch schnelles ungeregeltes Scanning. Mit dem Chromatic Focus Point Sensor (CFP) lassen sich Maß-, Form- und Lageabweichungen mit hoher Punktedichte messen. Große Messbereiche bis 6 mm erlauben schnelles Scanning, da der Sensor nicht nachgeführt werden muss, um den Kontakt mit der Werkstückoberfläche zu halten. Alternativ ist bei starken Abweichungen von der Vorgabebahn auch ein geregeltes Scanning mit automatischer Verfolgung der Werkstückoberfläche möglich. So können Ebenheit, Verwindungen und Verzug von Oberflächen mit einer sehr geringen Antastabweichung von bis zu 0,25 µm in Z-Richtung schnell und hochgenau gemessen werden. An transparenten Materialien lässt sich auch die Schichtdicke bestimmen. Aufgrund seines Funktionsprinzips wird der Sensor weder vom Kontrast noch vom Reflexionsverhalten der Werkstückoberfläche maßgeblich beeinflusst. Damit ist der CFP nahezu unabhängig von der Oberflächenbeschaffenheit und wird sowohl auf diffus reflektierenden als auch an spiegelnden und transparenten Oberflächen eingesetzt, wie sie zum Beispiel im Werkzeugbau, der Elektronikfertigung und der Feinoptik vorkommen. Neben Prägewerkzeugen, der Koplanarität der Lötpunkte von Steckverbindern und hochgenauen Uhrenplatinen misst der CFP auch optische Funktionsflächen wie Linsen oder Spiegel. Der Liniensensor Chromatic Focus Line Sensor (CFL) nutzt dasselbe Messprinzip zur 3D-Erfassung der kompletten Werkstückoberfläche.