inspect 3 / 2011

Inhalt

TITELSTORY
Die SWaP-Mission
GigE-Vision-Plattform: Neue Anwendungsmöglichkeiten für Infrarot-Kameras
Im Gespräch mit Piet van Riel, Sales Manager bei Xenics, und Danny de Gaspari, Systemingenieur bei Xenics

EDITORIAL
Alchemie des 21. Jahrhunderts
Dr. Peter Ebert

TOPICS
Gifa, Metec, Thermprocess und Newcast öffnen ihre Tore

Das Netz der Bildverarbeiter
Nachbericht zur EMVA Business Conference in Amsterdam

„In glänzenderVerfassung"
VDMA Robotik und Automation: Branche rechnet 2011 mit Umsatzwachstum von 18%

Neue Form der Laufzeit-Messung
3D-Time-of-Flight-Technologie mit indirektem Pulslaufzeit-Verfahren
Stefan Schwope

Visionäre
Interview mit Christian Demant, Geschäftsführer der NeuroCheck GmbH

VISION
Die drei Kandidaten
Vor- und Nachteile der neuen Video-Schnittstellen-Standards
John Phillips

Bildverarbeitungs-Software versus Hardware-Apps
Applets-Konzept für Framegrabber
Michael Noffz

Die Rückkehr des Koaxials
CoaXPress Gerätedesign mit FPGA Coress
Matthias Schaffland

Gutsortierte Bibliothek
3D-Bildverarbeitungsbibliothek für die Defekterkennung von Freiformobjekten
Josep Forest Collado

Die Suche nach dem Licht
Qualitätsanalyse von Solarzellen mit hochauflösender InGaAs-Kamera
Bertram N. Lohmüller, Yoshiyasu Yokoyama

Es muss nicht immer InGaAs sein
Preiswerte CCD und CMOS Kameras für die Solarzellen-Inspektion
Denis Dietsch

AUTOMATION
Finde die Fehler
Optische Inspektion für den Dünnschichtsolarbereich

Gesunde Füllung
Vision-System arbeitet in Prüfmaschinen für Röhren- und Formbehälter aus Glas

Pilze suchen
Kameramodul hilft bei schnellem und sicherem Nachweis von Mikroorganismen

Brot und Schokolade
Optische Technologien in der Lebensmittelproduktion
Prof. Dr. rer. nat. Kristina Schädler, Prof. Dr. Ing. Detlef Jensen

Gut gebremst
Inspektions- und Verpackungsanlage prüft Bremsscheiben vollautomatisch
Thomas Simon

CONTROL
Für eine bessere Ausbeute
Photovoltaik-Industrie: In-line Messsysteme reduzieren Produktionskosten
Dr. Thomas Riedle

Scharfe Tiefe
Berührungslose Oberflächenprüfung: Chromatisch konfokales Messprinzip

Produktneuheiten Röntgen / CT

 


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