Podcast

Automatisierung

Bildfeldunabhängig im Nanometerbereich messen

30.03.2021 -

Im Interview mit David Löh über die Messung der Oberflächenrauheit mittels Weißlicht-Interferometrie erläutert Dr.-Ing. Özgür Tan das Prinzip dieses Messverfahrens und...

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