News

Mit akkreditierten Prüfverfahren zu UVC-Kalibrierstandards

Prüflabor von Instrument Systems entwickelt rückführbare UV A/B/C-Referenzquellen zur Kalibrierung und Prüfung von Messequipment

06.09.2021 - Instrument Systems ist seit 2009 für Prüfungen im Bereich Lichttechnik nach DIN EN ISO / IEC 17025 akkreditiert und bietet seit neuestem auch die akkreditierte Prüfung von Strah-lungsleistung und Lichtstrom mit dem Verfahren der „Goniospektroradiometrie von optischen Strahlungsquellen“ an. Das Verfahren ermöglichte die Entwicklung von UVC-LED-Referenzquellen mit rückführbaren Referenzwerten höchster Genauigkeit für Strahlungsleis-tung und Bestrahlungsstärke. Diese Referenzquellen werden für das Monitoring sowie die Kalibrierung von UV-Messequipment, wie z.B. der ISP-PTFE-Serie, verwendet.

Die Akkreditierung von Prüflaboren ist für Kunden der Lichtmesstechnik enorm wichtig. Sie erhalten mit ihr die Gewissheit, dass ihre Messgeräte zuverlässige und rückführbare Ergebnisse liefern. Die akkreditierte Prüfung der oftmals in der Produktion eingesetzten Messgeräte stellt gleichzeitig eine hohe Qualität der Endprodukte und ein hohes Maß an Vertrauen beim Endkunden sicher. Instrument Systems unterhält deshalb ein nach DIN EN ISO / IEC 17025 akkreditiertes Prüflabor, das rückführbare Prüfungen aller relevanten photometrischen und radiometrischen Messgrößen vom UV- bis in den NIR-Bereich mit einer Vielzahl von Messverfahren anbietet und so flexibel und zukunftssicher aufgestellt ist.

Die in der Lichtmesstechnik sehr erfahrenen Ingenieure von Instrument Systems entwickelten ein mit der Norm CIE 239:2020 konformes, akkreditiertes Prüfverfahren zur Erstellung hochgenauer UV-LED-Referenzquellen. Die Bestimmung der rückführbaren Referenzwerte für Strahlungsleistung erfolgt durch Vermessung der UV-LED Quellen mit einem Goniospektralradiometer, bestehend aus einem hochpräzisen Goniometer der LGS-Serie und einem ebenfalls durch das Prüflabor rückführbar geprüften CAS-Spektrometer mit Bestrahlungsstärke-Einkoppeloptik.

Mit dieser Kombination werden extrem niedrige erweiterte Messunsicherheiten (k = 2) der Referenzwerte von nur 4,5 % (UV-C), 3,5 % (UV-B) und 2 % (UV-A) erzielt. Details zum Verfahren sind in mehreren Fachmagazinen veröffentlicht.

Kontakt

Instrument Systems GmbH

Kastenbauerstr. 2
81677 München

+49 (0) 89/454 943-0
+49 (0) 89/454 943-11

Spannende Artikel zu Fokus-Themen finden Sie in unseren E-Specials. Lesen Sie jetzt die bisher erschienenen Ausgaben.

Zu den E-Specials

Media Kit

Die Mediadaten 2024 sind jetzt verfügbar! Laden Sie sie hier herunter.

Industrie-Lexikon

Begriffe aus der Bildverarbeitung und Automation, die man kennen sollte

Zum Lexikon

Spannende Artikel zu Fokus-Themen finden Sie in unseren E-Specials. Lesen Sie jetzt die bisher erschienenen Ausgaben.

Zu den E-Specials

Media Kit

Die Mediadaten 2024 sind jetzt verfügbar! Laden Sie sie hier herunter.

Industrie-Lexikon

Begriffe aus der Bildverarbeitung und Automation, die man kennen sollte

Zum Lexikon