Automatisierung

Bildfeldunabhängig im Nanometerbereich messen

Videointerview mit Dr.-Ing. Özgür Tan, Polytec

30.03.2021 - Im Interview mit David Löh über die Messung der Oberflächenrauheit mittels Weißlicht-Interferometrie erläutert Dr.-Ing. Özgür Tan das Prinzip dieses Messverfahrens und die Anwendungsszenarien.

 

Im Interview mit David Löh, Chefredakteur der inspect, über die Messung der Oberflächenrauheit mittels Weißlicht-Interferometrie erläutert Dr.-Ing. Özgür Tan, strategisches Produktmarketing optische Messsysteme bei Polytec, das Prinzip dieses Messverfahrens und die Anwendungsszenarien. Außerdem erklärt Tan, warum sich das neue Gerät auch für Inline-Messungen eignet.

Kontakt

Polytec GmbH

Polytec-Platz 1-7
76337 Waldbronn
Deutschland

+49 7243 604 0
+49 7243 69944

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