Bildverarbeitung

Multi-Beam-Interferometer für jeden Einsatzzweck

Sios Meßtechnik GmbH

Die Ein- und Mehrstrahl-Interferometer von Sios adressieren die unterschiedlichsten Anwendungsszenarien – von Kalibrieraufgaben und simultanen Weg-Winkelmessungen über hochstabile Differenzmessungen und Schwingungsanalysen bis hin zu mehrachsigen Systemkombinationen, bei denen dreidimensionale Vorgänge erfasst werden.

Das Grundkonzept aller Ausführungen verkörpert dabei das kompakte Einstrahl-Kalibrierinterferometer der SP-NG-Produktfamilie, dessen Sensorkopf samt Justiergelenk lediglich 133 x 91 x 54 mm – beziehungsweise 227 x 91 x 67 mm für Messungen großer Längen – umfasst. Denn dabei handelt es sich um ein Präzisionslängenmesssystem, bei dem der einzelne Messstrahl vom Reflektor auf demselben Wege, also in sich selbst, zurückgeworfen wird.

Dank dieses bewährten Prinzips ergibt sich ein definierter Antastpunkt am Messobjekt, sodass Ausrichtungsfehler sowie der typische Abbe-Fehler kompensiert werden können. Die optischen Eigenschaften der Reflektoren ermöglichen es, derartige Ausrichtfehler zu erkennen und zu korrigieren.

Kontakt

SIOS Meßtechnik GmbH

Am Vogelherd 46
98693 Ilmenau

03677/6447-0
03677/6447-8


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