National Instruments und sein Platinum Alliance Partner NOFFZ Technologies veranstalten am 24. Juni 2015 in Tönisvorst bei Düsseldorf einen Technologietag zum Thema RF- und Wireless-Test. Die zunehmende Vernetzung von Geräten und Systemen legt die Messlatte für den Bereich RF-Test Jahr für Jahr ein Stück höher. Trends wie das Internet der Dinge (IoT) und Industrie 4.0 verlangen RF-Prüfmitteln mehr ab denn je. RF-Testsysteme müssen flexibel auf Änderungen reagieren, um beispielsweise die neuen Wireless-Standards der Prüflinge zu intergieren, dabei aber immer auch die Testzeiten minimieren und letztlich bessere Qualität für eine enorme Bandbreite an Anwendungen garantieren.

Gerade in Deutschland sind RF-Tests vor allem aus Anwendungen in der Automobilindustrie - wie eCall, Network Access Devices (NADs) und Telematics Control Units (TCUs) - sowie aus vielen weiteren Wireless-Schnittstellen, beispielsweise in Smart Homes und im Consumer-Bereich, nicht mehr wegzudenken.

Der RF- und Wireless-Technologietag bietet die Möglichkeit, sich über die neuesten Trends in den Bereichen RF Chip Testing, PXI-basierte Messgeräte, Adapterlösungen sowie standardisierte Komplettsysteme zu informieren. In parallel stattfindenden Workshops können die Teilnehmer zudem mehr über die Vorteile von RF-Messtechnik auf Basis der PXI-Plattform erfahren und sich anhand praxisorientierter Übungen mit der Handhabung vertraut machen. Eine begleitende Fachausstellung gewährt Einblicke in erfolgreich realisierte Projekte und die jeweils eingesetzten Technologien.

Themenschwerpunkte des Technologietags:

• Mobile Device Test
• Communication System Design
• RF Manufacturing Test
• Multi DUT RF Test für Cellular- und Connectivity-Applikationen
• Non-Signaling Chip Testing